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测试工具的新设计帮助采用集成芯片测试程序的设计者们克服了重重障碍。
自顶向下的测试程序设计
【摘 要】
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测试工具的新设计帮助采用集成芯片测试程序的设计者们克服了重重障碍。
【机 构】
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天津大学,天津大学
【出 处】
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国外电子测量技术
【发表日期】
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1994年1期
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