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介绍用有哑铃状孔－缝端盖的微波谐振腔测量片状导体材料非平衡载流子寿命的一种方法。腔体用圆柱ＴＥ０１１模高Ｑ腔，易于更换端盖，可以达到较高的测量精度。实验表明，对同一半导体材料测量得到的有效寿命不因端盖－缝的改变而变化，所以可以通过选用孔－缝尺寸没的端盖，来测量不同电导率的材料，以提高信号幅度，从而提高精度。测量是无接触，因此无需对样品进行加工。用小的孔－缝端盖还可以用来对半导体材料有效寿命的二维发