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<正> 当CMOS器件的静态电流(I_(DDQ))测试作为一种几乎必不可少的和十分有价值的测试技术,而引起人们越来越多的注意时,对其应用前景的疑问也随之出现。在1996年IEEE国际测试会议上这两方面都表现得十分明显。 第二届IEEE I_(DDQ)测试研讨会聚集了众多的与会者。但这个会议上,一个名为“在亚微米技术下,I_(DDQ)测试会逐渐消失吗?”的研究小组预测,I_(DDQ)很可能会失去生命力。 导致九十年代后期I_(DDQ)测试升温的因素包括: