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在Ｒｉｃｈａｒｄ Ｓ．Ｃｒａｎｄａｌｌ和Ｐｏｒｐｏｎｔｈ Ｓｉｃｈａｎｕｇｒｉｓｔ等人工作的基础上，用平均场区域近似（ＵＦＲＡ）方法，对ｐ－ｉ－ｎａ－Ｓｉ：Ｈ薄膜太阳电池进行了解析分析，得出了电池性能参数随本征层厚度变化的关系。短路电流密度先随厚度的增加而增加，在１μｍ左右达到最大值，而后将减小，但但小得不多，开路电压基本上下随本征层厚度变化。填充因子随本征层厚度一直减小，从厚度０．１μｍ时的０．