双荧光层靶Kα线强度比诊断靶内超热电子温度

• 作 者: 蔡涓涓 黄文忠 谷渝秋 董克攻 吴玉迟 朱斌 王晓方
• 机 构: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心,中国科学技术大学近代物理系
• 出 处: 强激光与粒子束
• 发表日期: 2011年5期
• 关键词: 超短超强激光 固体靶 超热电子 Kα特征线 ultrashort ultraintense laser solid target hot electrons
• 基金项目: 国家自然科学基金项目（10876039 10905051 10975121）, 中国工程物理研究院科技发展重点基金项目（2006Z0202）, 高温高密度等离子体物理国防科技重点实验室创新基金项目（8901）, 中国科学院创新项目

利用双荧光层复合靶产生的Kα特征线强度比诊断了靶内超热电子的温度,即通过实验测量复合靶中两种不同材料荧光层辐射出的Kα特征线强度比,结合ITS3.0程序模拟结果,对超热电子温度进行诊断。将诊断结果与实验中利用电子磁谱仪测量的超热电子温度进行了比较,二者基本一致。结果表明,选取适当的荧光层靶厚,可以利用双荧光层复合靶产生的Kα特征线强度比对靶内的超热电子温度进行诊断。