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ＩＥＥＥ１１４９．１边界扫描机制是一种新型的ＶＬＳＩ电路测试及可测试性设计方法，在边界扫描测试过程中，生成合理的测试向量集是有效应用边界扫描机制对电路系统进行测试的关键。在分析现有边界扫描测试生成算法的基础上，提出了一种极小权值－极大相异性算法。该算法可以在确定边界扫描测试向量集的紧凑性指标的前提下，生成故障诊断能力相当优化的测试一集。仿真试验表明，该算法的性能优于现有的类似算法。