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采用抽运-探测时间分辨方法实验研究了半导体材料ZnO纳米颗粒粉末中的无序激射现象.在267nm激光的抽运下,通过精确控制抽运光的能量和样品表面的抽运面积,获得了宽度小于1nm的单模无序激射光谱和多峰的多模无序激射光谱.时间分辨的抽运-探测结果显示,此时样品的上能级寿命仅为几个皮秒,证明了ZnO粉末的单模无序光谱是受激辐射的结果.