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随着TD—SCDMA技术的迅速发展，TD—SCDMA在我国的正式大规模商用指日可待。由于TD—SCDMA技术起步晚，发展时间短，相关的测试仪表，尤其是终端测试系统类产品在市场上还很匮乏，用TTCN来实现测量仪表的校准系统领域尚处空白。但这对TD—SCDMA的测试认证带来不便。本文提出一种实现测试校准系统的可行方法，将会对TD—SCDMA测试仪表的发展起到一定作用。