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由于材料不稳定，热电元件须由测试系统完成性能筛选。介绍的热电元件测试系统用0．01mm的激光小光斑，在4耐的元件表面进行400个点的扫描，将元件电信号输入计算机进行性能分析。该测试系统的第一个关键技术是：设计一个每步行程为0．005mm，扫描点距为0．1mm的二维扫描平台小住移精密控制电路。另一方面，元件输出信号极为微弱，只有1-100μVpp，必须有高增益的放大电路，将输出信号放大到后端AZD电路所能接受的范围（0～10V）内，并避免干扰造成信号失真，这是系统的另一关键技术。就上述2个技术问题作详细介绍