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本文提出了有关研制自动测试系统的几个问题,该系统采用了国际电工委员会第444号公告中所推荐的传输测试法。业已证明,当试图对电阻与总并联电容的电抗之比具有很大数值（本文中定义为α）的晶体进行测量时,这种方法是失败的。本文进一步详述了全自动测试系统中电容凋零网络的使用情况。讨论了使用微处理器CPU的自动测试系统,并给出了测量数据。列出了在10兆赫到183兆赫范围内所测得的晶体的测量数据。这些测量说明在频率为1×10-8量级上以及动态参数小于0.5％的标准偏差的可重复性是极好的。