一种基于UV-ESA自校准和高精度的PM电学测量方法

• 作 者: 亓林 刘宇 邹新海 唐笠 张萍
• 机 构: 重庆邮电大学通信与信息工程学院
• 出 处: 电子学报
• 发表日期: 2020年11期
• 关键词: 电光相位调制器 电谱分析 调制指数 半波电压 electro-optic phase modulator(PM)unequal voltage based on
• 基金项目: 国家重点研发计划(No.2018YFF01010202,No.2018YFF01010201),国家自然科学基金(No.61901069,No.61705027,No.11704053,No.51902037),省部级人才计划项目(No.CSTC-CXLJRC201711),重庆市科学技术委员会基础研究项目(No.CSTC-2018jcyjax0619),重庆市教委基础研究项目(No.KJZH17

电光相位调制器(Phase Modulator,PM)因无需偏置,线性调制和插损小等优点,被广泛应用于相干光通信、微波信号产生、处理和测量等领域.调制指数和半波电压是评估PM性能的关键参数.传统基于(Optical Spectrum Analyzer,OSA)的方法面临测量分辨率低和存在测量盲区问题.为此,本文提出了一种基于电谱分析(Unequal Voltage based on Electrical Spectrum Analyzer,UV-ESA)的自校准、高精度的PM特性参数测量方法.该方法利用同