镀膜型光谱成像数据提取与作物叶绿素分布探测研究

• 作 者: 龙耀威 孙红 高德华 张智勇 李民赞 杨玮
• 机 构: 中国农业大学现代精细农业系统集成研究教育部重点实验室
• 出 处: 光谱学与光谱分析
• 发表日期: 2020年05期
• 关键词: 镀膜型传感器 光谱成像 光谱校准 图像分割 玉米植株 Coating sensorSpectral imagerySpectral correctionImag
• 基金项目: 广西创新驱动发展专项(桂科AA18118037),国家“十三五”重点研发计划课题(2018YFD0300505-1),国家自然科学基金项目(31971785和31501219),“电子与通信工程”实践教学基地建设(ZYXW037)资助

为了快速感知并分析田间作物生长状况,采用先进的半导体镀膜工艺的光谱成像传感器,研究镀膜型光谱成像数据的提取与叶绿素含量分布式检测的方法。实验采用基于镀膜原理的IMEC 5×5成像单元式多光谱相机,对47株苗期玉米植株的冠层进行拍摄,获取673～951 nm范围内的25个波长的光谱图像。利用SPAD-520叶绿素仪非破坏性地测量叶绿素含量指标,每株玉米冠层叶片设置2～3个采样点,每点测量3次取平均,共计251个样本数据;同时使用ASD Handheld2型光谱仪采集相应位置区域的反射率曲线,以对比分析