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采用ZnS窗和Ge透镜组成的光学系统、LiTaO<sub>3</sub>探测器、单片机处理系统以测量彩色显像管中屏的温度和温度变化。由于采用环境温度校正、A/D转换、发射率ε可调及数字线性化,保证了测试的精度。同时,采用CPU进行数据处理,提高了抗干扰性能。本仪器采用了防化学腐蚀的技术处理。