高纯金属材料中K含量的AMS测定

• 作 者: 董克君rrrrrrrrrn 管永精rrrrrrrrrn 武绍勇rrrrrrrrrn 袁坚rrrrrrrrrn 王慧娟 寅新艺 仇九子rrrrrrrrrn 李国强 杨耀云 李世红rrrrrrrrrn 包轶文rrrrrrrrrn 游曲
• 机 构: 广西大学物理系,山西师范大学现代物理系,广西大学物理系,兰州大学现代物理系,中国台北中央研究院物理研究所 南宁530004rrrrrrrrrn,临汾041004rrrrr
• 出 处: 中国原子能科学研究院年报
• 发表日期: 2003年00期
• 关键词: 高纯金属 AMS测定 离子源 传输效率 负离子束 电离效率 同样条件 金属粉末 测量范围 金属离子

采用低K含量的高纯金属材料作为靶锥或载体对于拓展加速器质谱(AMS)的测量范围具有重要意义。本试验利用加速器质谱(AMS)测量了Al(99.999%)、Cu(99.999%)、Au(99.999%)、Ag(99.999%)等高纯金属中K的含量。K的负离子束流较小,试验中采用纯的金属粉末与K2CO3的混合物(质量比1﹕1)

The use of low-K high-purity metallic materials as target cones or carriers is of great importance for expanding the measurement range of accelerator mass spectrometry (AMS). In this study, the content of K in high purity metals such as Al (99.999%), Cu (99.999%), Au (99.999%) and Ag (99.999%) was measured by accelerator mass spectrometry (AMS) K anion beam is small, the test using a mixture of pure metal powder and K2CO3 (mass ratio of 1: 1)