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对于某些应用来说，现有的成像系统并不是最佳的。例如，为了准确地测定一个物体（例如处于空间中的一个物体）的一种或多种材料特性，现有的系统可能会提供太多或者太少的图像信息。如果图像信息不足，就不可能准确地测定材料的特性，而如果信息过多，则又需要花费大量图像处理资源和处理时间。还有，虽然高光谱成像系统也可以用来测定材料特性，但是高光谱成像系统的数据获取和分析是复杂的，而且是费时的。