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有 nanoscale 双性人层时期的 TaN/NbN multilayered 涂层被 RF (收音机频率)以不同 Ar/N2 流动率综合磁控管 sputtering.XRD (X光检查衍射) andNano Indenter 系统被采用调查 Ar/N2 流动率的影响(F_( Ar ):F_( N2 ))在微观结构和机械性质上涂层。低角度的 XRD 模式显示了定义 awell 的作文调整和 multilayered 涂层的层结构。所有 multilayered 涂层几乎比 rule-of-mixtu