CCD探测器的相对探测效率标定

• 作 者: 刘晓艳 杨彦佶 朱玥 常治 肖君 陆景彬 王于仨 崔苇苇 姚
• 机 构: 中国科学院高能物理研究所,吉林大学,教育部应用离子束重点实验室,上海EBIT实验室
• 出 处: 核电子学与探测技术
• 发表日期: 2016年2期
• 关键词: CCD探测器 相对探测效率 EBIT TL 816+.1 CCD detector relative detection efficiency EBIT
• 基金项目: 中国科学院战略先导项目资助

探测器的探测效率是表征探测器性能的一个重要参数,需对其进行标定。本次试验使用复旦大学EBIT设备,以其配有的高纯锗探测器为标准,对低能X射线望远镜的CCD探测器进行探测效率的相对标定,得到在6.7、8.3、9.1、9.7、10.4、11.9和13.3 keV七个能量点CCD探测器相对于高纯锗探测器的探测效率。其讨论使用的标定方法对今后的探测效率标定工作具有意义。