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本文讨论了电子电气系统及其所属设备在长期贮存过程中，在温度、湿度、时间三因素的作用下，设备的失效机理和失效模式，以及它们和应用的作用关系；论述了在贮存过程中，湿度、湿度和温度联合对设备的失效作用大于单独温度对设备的失效作用；论述了阿伦尼斯文程及导出的１０℃法则不能普遍应用于电子电气设备的贮存试验，只适用于由随温度的长期作用而老化的关键元器件、零件、材料构成的设备。