X射线荧光分析中基本参数法的应用

• 作 者: 刘亚文 范钦敏 马淑兰 李道伦 韩俊英 颜蓓华
• 机 构: 中国科学院高能物理研究所,中国科学院高能物理研究所,中国科学院高能物理研究所,中国科学院高能物理研究所,中国科学院高能物理研究所,中国科学院高能物理研究所
• 出 处: 核技术
• 发表日期: 1982年04期
• 关键词: 参数法 标准样品 工作依据 射线荧光分析 激发谱 基体效应 迭代法 迭代公式 分析元素 浓度值

采用基本参数法校正基体效应,需作如下假设:样品均匀、无限厚且表面光滑。 本工作依据的公式是文献[1]的(9)式。计算中使用了相对强度,采用的迭代公式是文献[2]的(A-3)式。 首先测量标准样品和未知样品中被分析元素的某一特征X射线强度,使用相对强度和标准样品中该元素的浓度值,代入μ、ω、J等基本参数和初级激发谱分布数据,利用上述公式,用“迭代法”计算出未知样

Using the basic parameter method to correct the matrix effect, the following assumptions need to be made: uniform sample, infinite thickness and smooth surface. The work is based on the formula [1] (9). The relative intensity is used in the calculation. The iterative formula adopted is (A-3) in [2]. First, a standard X-ray intensity of the analyte in the standard sample and the unknown sample is measured. The relative intensity and the concentration of the element in the standard sample are substituted into the basic parameters μ, ω, J and the primary excitation spectrum distribution data, Formula, using “iterative method” to calculate the unknown sample