ICP-MS法测定食品级壳聚糖中的微量杂质元素

• 作 者: 聂西度 符靓
• 机 构: 湖南工学院材料与化学工程系,长江师范学院化学化工学院
• 出 处: 光谱学与光谱分析
• 发表日期: 2016年07期
• 关键词: 壳聚糖 电感耦合等离子体质谱 柠檬酸 盐酸 杂质元素 Chitosan Inductively coupled plasma mass spectrometr
• 基金项目: 国家自然科学基金项目（21271187）, 重庆市科委前沿与应用基础研究项目（cstc2015jcyjA10053,cstc2015jcyjA10038）, 湖南省教育厅重点科研项目（14A035）, 湖南省重点学科建设项目（湘教发[2011]76号）资助

建立了电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)法直接测定食品级壳聚糖中杂质元素的分析方法。壳聚糖用3%的柠檬酸溶解并加入低浓度盐酸后,采用ICP-MS法直接测定其中的Be,Na,Mg,K,Ca,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,As,Cd,Sn,Sb,Hg,Pb等20种杂质元素。盐酸的使用有效地改善了元素的稳定性,尤其是Hg和Sn。选择动态反应池(DRC)技术消除了氯离子干扰以及其他质谱干扰,采用基体匹配法并通过加入Sc,Y,In,Bi内标元素混合溶液补偿了样品传输效率的差异以及有机溶