电子设备BIT状态的神经网络预测

• 作 者: 徐永成 易晓山
• 机 构: 国防科技大学机电工程与仪器系
• 出 处: 数据采集与处理
• 发表日期: 1999年3期
• 关键词: 电子设备 BIT状态 神经网络 预测 测试 builtin test condition predict neural network LM algorithm

首先对基于ＬＭ算法的神经网络预测性能进行研究。相对快速ＢＰ网络而言，其预测精度高、收敛速度快。然后提出将该方法应用于电子设备ＢＩＴ输出及相关量的状态预测，对存在于航空电子设备的压力、温度等环境应力的典型变化的曲线进行了预测，并在环境应力影响下泊ＢＩＴ状态综合预测中得到验证，结果表明，利用时空两方面信息进行状态预测和综合分析是一条提高ＢＩＴ诊断能力、降低虚警的重要思路。