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对三例钴源事故受照人员照后６（７）年和１１（１２）年两次细胞遗传学随访结果表明，两次随访受照者染色体畸变率分别为４．２９％和３．３６％，均显著高于对照组（Ｐ〈０．０１），但两次随访间未见显著差异（Ｐ〉０．０５），而且第一次随访染色体畸变是以双＋环和无着丝粒断片为主，第二次随访是以易位，缺失和倒位为主，两次随访受照者微核率分别为４．１７‰和１．１７‰，第二次随访微核率明显下降（Ｐ〈０．０１）。提示随