弯曲不敏感光纤1310nm处模场直径测试方法研究

• 作 者: 杨世信 李琳莹 俞根娥 时彬 甘露 宋志佗 康玉成 朱博 张
• 机 构: 康宁通信大中华区,信息产业部有线通信产品质量监督检验中心,康宁上海光纤有限公司,成都康宁光缆有限公司
• 出 处: 现代传输
• 发表日期: 2012年3期
• 关键词: 弯曲不敏感单模光纤 模场直径 滤模器 测试

G．657A2是一种优化了抗弯性能的全谱单模光纤，和传统的G657．A1弯曲改善型单模光纤相比，它大幅提升了光纤的抗弯表现。由于这种光纤的性能满足ITU-TG657A2标准，同时完全符合ITU-TG．652．D标准．与已经广泛铺设的G652标准单模光纤能无缝兼容．目前在国内阿-TH的建设中得到广泛的应用。但在测试弯曲损耗不敏感G657．A2光纤1310nm处模场直径时，特别是测宏弯性能优异的G657，A2光纤时，如果仍然采用针对传统标准G652光纤测试条件：即在2m试样光纤上绕一半径为30mm圈作为高阶模