NI成功主办第3届“设计、验证及测试论坛”

• 出 处: 测控技术
• 发表日期: 2006年11期
• 关键词: 嵌入式系统设计 自动化测试 论坛 主办 验证 美国国家仪器有限公司 NI 技术讲座

美国国家仪器有限公司（NI）于9月底在北京成功主办第3届“设计、验证及测试论坛”（DVTF 2006．design validation and test forum2006）。本届论坛以一场形式新颖的主题演讲开始，并分为“自动化测试”和“嵌入式系统设计”两大专题技术讲座，吸引了逾600位工程师、技术人员和院校师生参与。