原代培养的皮质神经元缺血性损伤模型的建立

• 作 者: 吕青 祝伟 徐旭林 郭莲军
• 机 构: 华中科技大学同济医学院药理学系,华中科技大学同济医学院附属同济医院急诊内科
• 出 处: 中风与神经疾病杂志
• 发表日期: 2007年3期
• 关键词: H2O2 GLU 皮质 神经元 MTT LDH Hydrogen peroxide Glutamate Cortical Neurons MTT LD
• 基金项目: 国家自然科学基金资助课题（30171082）

目的建立方便有效的神经元拟缺血性损伤的离体模型。方法以原代培养Wistar大鼠乳鼠大脑皮层神经元为研究对象,不同浓度H2O2及Glu与细胞作用24h后,检测细胞活力,LDH漏出量及细胞形态学改变。结果6．25μmol/L～200μmol/L H2O2及12．5μmol/L～50μmol/L Glu均可降低神经元生长能力,增加乳酸脱氢酶漏出量；细胞形态有不同程度病理变化。结论H2O2与Glu引起的细胞损伤模型是两种方便有效的神经元拟缺血性损伤模型。