用干涉法实现光学合成孔径技术

• 作 者: 彭仁军 吴健 杨春平 陈长庚
• 机 构: 电子科技大学应用物理研究所,电子科技大学应用物理研究所,电子科技大学应用物理研究所,电子科技大学应用物理研究所 成都610054,成都610054,成都610054,成都610054
• 出 处: 光学学报
• 发表日期: 2002年03期
• 关键词: 干涉 合成孔径 错位

分析了传统干涉成像方式的分辨率受限问题 ,提出一种干涉条纹场的合成来提高分辨率的方法 ,并以实验验证了上述方法的可行性

The problem of limited resolution of the traditional interference imaging method is analyzed. A method to improve the resolution of the interference fringe field is proposed. The feasibility of the above method is verified by experiments