同步辐射GIXRD研究溶液浓度对P3HT薄膜的取向及载流子迁移率的影响

• 作 者: 李海东 王鹏月 张吉东
• 机 构: 长春工业大学化学工程学院,中国科学院长春应用化学研究所高分子物理与化学国家重点实验室
• 出 处: 核技术
• 发表日期: 2004年期
• 关键词: 聚噻吩薄膜 掠入射X射线衍射 分子链取向 载流子迁移率 Polythiophene thin film Grazing incident X-ray diffr
• 基金项目: 国家自然科学基金

用不同浓度的氯仿溶液通过旋涂法制备了聚己基噻吩薄膜.一维面外掠入射X射线表征结果说明,面外方向(100)衍射峰的强度随所用溶液浓度下降而增高,(010)衍射峰的变化趋势则相反.二维掠入射X射线衍射的结果表明,这是由于低浓度溶液制备的薄膜中分子链从face-on取向为主转变为edge-on取向为主.相应的薄膜晶体管器件性能证明了edge-on取向对应着更高的载流子迁移率.