HL-2A等离子体破裂期间逃逸电子演化模拟

• 作 者: 吴娜 王中天 桑超峰 张轶泼 王德真
• 机 构: 大连理工大学物理与光电工程学院,核工业西南物理研究院
• 出 处: 核聚变与等离子体物理
• 发表日期: 2013年4期
• 关键词: 逃逸电子 环向电场 等离子体破裂 HL-2A装置 Runaway electrons Toroidal electric field Plasma disrup
• 基金项目: 国际热核聚变实验堆（ITER）计划专项（2013GB109001,2013GB107003）, 国家自然科学基金（11275042）, 中国博士后科学基金（2012M520613,2013T60273）, 中央高校基本科研业务费专项[DUT12RC（3）53].感谢核工业西南物理研究院龙永兴研究员在程序上的帮助,感谢大连理工大学李燕丽对本工作的帮助.

采用数值模拟方法对托卡马克等离子体破裂期间的逃逸电子（RE）演化行为进行研究。程序所使用的物理模型包含了初级和次级两种RE产生机制,并耦合了麦克斯韦方程组。模拟结果显示：在等离子体破裂开始0.1-0.2ms后感应产生了很强的环向电场,持续约0.1ms之后该环向电场达到最大值,但是在大致2.5ms内逐渐衰减。同时模拟结果也证明了RE产生于等离子体中心处的局部区域,并且在破裂之后约1ms时间内就形成了RE束,实验中等离子体破裂之后出现的几十毫秒的电流平台主要是由RE携带的。从理论模拟与实验的对比中可以得出：H