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用于解决可编程逻辑阵列测试问题的大容量设计测试技术近年来得到了发展。但是在全结程序时,对目标值的多种要求使得选择一个最珠合成值仍然非常困难。为了使用户能熟练志掌这类技能有一种轻松方便的对PLA进行测试的ETPISS可供用户使用。这就快捷可编程逻辑阵列(PLA)智能测试系统(ETPISS)。