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内装测试(Built-in Test,BIT)是一种在对象内部设置功能测试电路的技术,是一种能显著改善系统或设备测试性和诊断能力的技术手段.BIT系统中,获取被测对象足够而准确的测试信息是对被测对象进行故障诊断的基础,测试信息获取是否准确与完备直接影响BIT的故障诊断能力.边界扫描技术正是为获取电子系统测试信息、解决其测试性问题而提出的一种先进的测试性设计技术,能大大提高数字电路系统的可控性和可观测性.进行该技术的研究,对提高国内数字系统可测性水平,满足国产武器系统的可测性设计要求具有重要的现实意义.该文首先对边界扫描技术进行系统的研究.在理解IEEE1149.1边界扫描标准的基础上,讨论了边界扫描技术的两种实现方法:器件置换法和边界扫描单元置入法,并介绍了两种扫描控制方式:外置式控制方式和嵌入式控制方式.VXI总线64路数字I/O模块是纯数字电路模块.该文利用边界扫描技术对该模块进行可测性设计,采用ScanPlus边界扫描测试工具,由外置计算机控制USB接口的边界扫描控制器对模块进行测试,实现了扫描链完备性测试、互连测试、总线测试和簇测试,从而验证了可测性设计的有效性.该文对BIT技术进行研究,参阅了大量参考文献,在掌握边界扫描技术核心思想、关键技术的前提下,讨论了"微处理器+嵌入式测试总线控制器"结构的基于边界扫描的BIT方案和多扫描链结构下的BIT方案.以此为基础,该文采用DSP作为BIT故障检测和诊断中心、嵌入式测试总线控制器eTBC作为边界扫描控制器完成了VXI总线64路数字I/O模块BIT的硬件设计;软件设计中,该文结合IEEE1149.1规范和互连网络故障诊断模型完成了扫描链完整性测试、互连测试和器件功能测试,实现了模块上所有的固定型故障、桥接故障和断路故障的检测与诊断.实验结果表明:在模块上增加边界扫描结构不影响模块的正常工作,基于边界扫描的BIT能检测到数字系统中所有的固定型故障、桥接故障和断路故障,并能对故障进行准确定位.基于边界扫描方法的BIT技术可以大大提高数字电路系统的可测性设计水平.