手机壳高精加工的刀具磨损状态识别与剩余寿命预测

• 作 者: 王光铭
• 出 处: 华中科技大学
• 发表日期: 2020年01期
• 关键词: 高精加工 刀具磨损 剩余寿命预测 状态识别 Stacked-LSTM-PF

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