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光吸收截面是物质与光子作用研究的一个重要基本物理量，在国家自然科学基金资助下，基于国内两套同步辐射装置，对惰性气体和金属薄膜进行了较为系统的光吸收截面研究。
在16eV-6keV范围内分段测量了Ar、Kr、Xe和He在不同压强时的光吸收截面，大多数测量结果与先前报道的数据符合得较好。首次发现吸收截面随着光子能量接近吸收边受压强的影响逐渐增大，随压强减小则截面增大，对其结果从光电子和离子复合以及量子力学的观点给出了合理解释，但也存在Xe在2.1-6.0keV电离截面随压强增加而增大的特例。另外还观察到大量的自电离共振结构。
用透射法和反射法分别对Al、Fe和V、W薄膜进行了截面测量。Fe的测量结果在其L吸收边前和远离吸收边的能区与理论值符合较好，V的数据与Henke整理的数据有较好的一致性，证明在现有条件下这两种方法测量光吸收截面是可行的。
作为截面测量结果的应用，首次使用稀有气体电离室对光电二极管进行了标定，获得初步结果。结果表明：在同一能点多次标定结果的重复一致性较好，波长17.625nm的标定结果与美国NIST标定结果在偏差范围内相符，该方法将为国内软X射线标准的建立奠定基础。