【摘 要】
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单次超短脉冲时域波形特性的测试是目前短脉冲光学领域的一个技术难点。本文对利用短脉冲光折变效应来实现单次短脉冲时域波形特性的测试进行了可行性分析和实验研究。论文开
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单次超短脉冲时域波形特性的测试是目前短脉冲光学领域的一个技术难点。本文对利用短脉冲光折变效应来实现单次短脉冲时域波形特性的测试进行了可行性分析和实验研究。论文开展了以下研究工作: 1.针对基于光折变效应的短脉冲时间特性测试方法，改进了信号光偏转单元和输出光成像读取测量系统，并分析了时间分辨率和动态范围等关键参数的影响因素。 2.针对波长1053nm的短脉冲时间特性测试，分析了基于GaAs和GaAlAs的半导体材料和掺铁铌酸锂晶体的光折变效应，结果表明，利用1053nm的倍频光泵浦铌酸锂晶体，可实现更大的光折变，该结果将有望简化基于光折变效应的短脉冲时间特性系统。 3.分析研究了铌酸锂晶体的光折变效应与入射信号光的偏振方向的关系，结果表明e光的光折变效应比o光的光折变效应更显著。 4.搭建了同源短脉冲光折变测试系统，利用锯齿光阑成像技术，简化了光棱镜系统，利用1053nm的倍频光（527nm，10ps，0.33mJ）泵浦掺铁铌酸锂晶体，发生光折变效应，观测到信号光偏转的角度为4.111×10-5rad，对应的铌酸锂折射率变化为Δn=-4.633×10-5。
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