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本研究通过6个实验,旨在探究大学生中,高、低考试焦虑个体的注意脱离在认知加工及神经机制上存在的差异。为了保证实验材料的有效性,本研究首次对考试图片进行了标准化评定,发现与考试相关程度越高的图片,越容易诱发个体的负性情绪,且这类图片的情绪唤醒度相对较高。同时,为了保证被试取样具有普遍性及代表性,本研究对259名被试进行了问卷调查,为后期的行为及脑电实验提供了良好的被试样本。问卷调查结果显示:中国大学生高考试焦虑检出率为20.8％；且考试焦虑与特质焦虑及抑郁存在较高的正相关。这一结果表明,考试焦虑个体通常伴随有特质焦虑和抑郁的症状,单纯考试焦虑存在的可能性较小。在以上两项实验的基础上,本研究分别采用线索提示范式和中央线索范式,结合事件相关电位(event-related potentials,ERFs)技术,对高、低考试焦虑个体的注意脱离机制进行考察。结果发现:
ⅰ.在线索提示范式中,高、低考试焦虑被试仅在注意脱离上存在显著差异,且高考试焦虑被试的注意脱离指数显著高于低考试焦虑被试,表明高考试焦虑被试对与考试有关的图片存在注意脱离困难；
ⅱ.线索提示范式下的脑电结果显示,不同类型图片刺激诱发的脑电成分(N150,P3a&P3b)存在显著差异,该差异主要出现在大脑额叶区。同时,高、低考试焦虑被试之间的差异同样显著。这一结果表明,较之于考试无关的图片,与考试有关图片刺激能够诱发高考试焦虑被试更多的注意警觉,且消耗更多的注意加工资源；
ⅲ.为了排除空间位置因素对注意脱离造成的影响,本研究采用中央线索范式发现,高、低考试焦虑被试在注意脱离上仍然存在显著差异,主要表现在高考试焦虑被试对与考试有关的图片出现注意脱离困难。但是,所有被试在两种实验范式下的反应时并没有显著差异。
ⅳ.中央线索范式下的脑电结果显示,不同类型图片刺激诱发的脑电成分(N100,P300)存在显著差异,该差异主要出现在大脑额叶及顶叶区。而高、低焦虑被试仅在N100成分上存在显著差异,表明高、低考试焦虑被试对不同类型刺激的加工差异主要出现在注意加工的早期阶段,而在晚期的认知策略重评阶段并无显著差异。此外,仅高考试焦虑被试在额叶区出现了显著的P100和N200成分,表明高考试焦虑被试在对视觉刺激的物理特性加工及反应抑制功能上与低考试焦虑被试存在显著差异。