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随着集成电路复杂度日益提高,测试成本也在不断增加,测试成本的一项重要因素是开发测试程序所耗费的时间和资源,因而低成本测试开发系统成为测试市场的发展方向。目前,测试超大规模集成电路(Very-Large-Scale Integrated Circuit, VLSI)和SoC(System-on-a-Chip)的能力在不断增加,并且方法也在不断改进,由此产生的测试向量十分庞大,并且测试向量中所包含的测试内容也越来越多,但是与此同时,由于芯片的设计要求与测试系统的测试能力仍然存在巨大差异,导致仿真后的测试向量不能直接应用于测试系统中,如何快速有效地把设计仿真后的测试向量转换为测试系统所能接受的数据格式,缩短测试程序的开发时间,成为降低测试成本的一个研究方向。本文在实际工程的基础上,对此进行了深入的探讨和研究。本文研究了多种测试向量格式语言和测试程序语言,系统介绍了测试开发系统的体系结构以及各个组成部分,介绍了当今的测试开发系统方面的研究成果,详细分析了在测试向量转换系统中的测试向量周期化转换的关键问题,并给出相应的解决方法及其算法实现。在此基础上,设计并实现了一个测试向量转换系统。本文的主要工作包括:1.通用的测试向量转换模型的设计与实现。本文对测试开发系统进行了概要性描述,介绍了测试开发系统的典型用例。通过分析测试向量转换系统的特点,采用了一种通用的测试向量转换模型,该模型主要由中间格式语言和各种转换规则组成,具有良好的开放性和可扩展性。在该模型的基础上,使用先进的三层结构的设计思想,将测试向量转换系统分为应用层、应用服务层和数据中心层等三部分实现。其中,数据中心层是整个系统的信息基础,应用服务层则包含多个服务于应用层的测试向量转换的功能模块,在上述两层基础上,应用层实现了基于工作流的转换流程构建、属性配置和波形显示等多个图形界面功能。通过在测试仪厂家的实践证明,本系统不仅功能强大,而且还具有易用性、良好的可扩展性,并且能够获得良好的转换效果。2.测试向量转换中的波形数据格式及其压缩编码算法研究。本文为了实现由芯片设计仿真出来的测试向量到测试设备的测试程序的转换,在分析了不断变化的测试需求后,本文提出了一种类STIL的波形数据格式。针对该波形数据格式,实现了一种基于测试向量特点的动态无损的压缩编码算法,从而解决了测试向量的大容量问题。实验结果表明,在此波形格式基础上的测试向量转换,不仅在速度上得到提高,同时针对大容量的测试向量集合,也能获得较高的压缩结果。