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随着半导体技术的不断发展,单芯片系统(SoC)已成为当今芯片设计的发展趋势.研究人员在FFT芯片中内嵌了1K×42位SRAM和256×32位ROM,使该芯片初步具备了SoC的特征,为单芯片系统设计做了有益的探索.另外,由于芯片规模越来越大,芯片的验证逐渐成为芯片设计流程中的难点之一.该文系统地研究了FFT芯片内嵌存储器部分的设计及验证和FFT芯片的全芯片后端验证过程.