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随着微电子技术的发展，数字电路复杂程度在不断提高，尺寸也日益缩小，而使用越来越广，由此测试的作用越来越重要，尤其是后期使用过程中的及时诊断更是重中之重。如何对PCB级数字电路进行有效的诊断就成为当前研究的必须，为此，专门研制成功了PCB级数字电路测试向量自动生成系统PATGTA，PCB级数字电路故障模拟器即为PATGTA系统的一部分。 本论文深入的讨论了故障模拟理论，分析了故障模拟理论实用化的基本要求，在此基础上，设计实现了一个实用的PCB级数字电路故障模拟器。同时，对于含RAM电路提出了一种行之有效的故障模拟新方法。论文还对PCB级时序电路故障模拟中的多事件故障定义问题和对故障模拟的影响进行了深入讨论，提出了作者自己的看法。 实用的PCB级数字电路故障模拟器采用故障并行的并行故障模拟方法，在PATGTA系统中与测试生成紧耦合方式交替运行。对一拍测试激励(即一个测试时帧)的模拟采用三段多遍的模拟方式。三段指的是组合-时序-组合，多遍指的是二段组合模拟需进行多遍，一直到稳定为止。时序段模拟时，只需根据有无脉冲，模拟时序功能块的动作。在每一段，对功能块的模拟都采用正常模拟—>多事件故障模拟—>故障模拟的流程，具体实现采用子程序调用的方式。这样既保证了故障模拟的精确性，也与实际情况一致，又增强了系统的可扩展性，为功能块的更新提供了方便。同时，也研究了对特殊组件如：双向、三态和总线结构的模拟处理。 鉴于含RAM器件的PCB电路的广泛性和特殊性，分析了含RAM电路故障模拟的特殊性，并提出了一种用于含RAM电路的故障模拟新方法。同时，还扩充了时序电路故障模拟中关于多事件故障模拟的定义，使之适用于含RAM的电路。并给出了相应的新的多事件故障识别和模拟方法，最后用实验电路的模拟结果验证了方法的正确性。 在研究中发现，当对时序电路需要产生故障字典时，已有的多事件故障的定义已不适用，需要更新。论文新提出了对PCB电路多事件故障的定义及处理方法，