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目的:观察不同时间阶段间断性缺氧对大鼠舌下神经核团形态学及电生理特性的影响。方法:将40只雄性SD大鼠随机分为间断性缺氧组及对照组。其中,间断性缺氧组30只,对照组10只。间断性缺氧组包含间断性缺氧4周组(IH4组)、间断性缺氧8周组(IH8组)、间断性缺氧12周组(IH12组)三个亚组。每组各10只大鼠。实验期间,实验者将IH4组、IH8组、IH12组置于间断性缺氧箱,向间断性缺氧舱内循环充入氮气,通过控氧仪监测间断性缺氧舱内的氧浓度来程控输气和排气装置,使每次循环间断性缺氧舱内的氧浓度最低达到5%,随后排出氮气的同时吸入空气,使间断性缺氧箱内的氧浓度恢复到21%。每次循环为8分钟,氧浓度波动于5%~21%之间,每日间断性缺氧8小时。对照组(UC组)置于正常氧环境,其余饲养条件同间断性缺氧组。为排除年龄因素对实验的影响,实验开始及开始后第4周、第8周,分别将10只大鼠进行间断性缺氧处理,于实验开始后第12周分别获得同一周龄间断性缺氧4周(IH4组)、8周(IH8组)、12周(IH12组)的模型大鼠。实验开始后第12周,在对照组及完成最后一次间断性缺氧的各IH亚组,分别随机取8只大鼠,麻醉后解剖并游离舌下神经。将舌下神经置于双极银电极上,使用多道生理记录仪记录各组大鼠舌下神经放电活性。完成放电活性测定后,取大鼠的延髓,固定包埋后连续切片。每隔5张切片选取3张分别裱片于不同的玻片,此过程循环反复,将每一延髓组织块制成3套切片。每套切片依次序分别予以编号。同一延髓组织块制成的3套切片中,编号相同的玻片处于相邻的延髓平面。将每一延髓组织块制成的3套切片分别进行he染色、nissl染色及tunel检测。光镜下,对照大鼠脑立体定位图谱挑选包含舌下神经核团的脑切片,定位舌下神经核团。观察处于同一平面的舌下神经核形态学改变及细胞凋亡情况。各组另取2只大鼠,通过光镜定位舌下神经核团后,使用透射电镜观察舌下神经核神经细胞超微结构的改变;结果:(1)、ih4组、ih8组、ih12组大鼠舌下神经放电活性均较uc组增高,差异有统计学意义(p<0.001)。ih12组大鼠舌下神经放电活性较ih4组及ih8组显著减弱,但仍明显高于对照组,差异有统计学意义(p<0.001)。sd大鼠经ih长期刺激后,舌下神经放电活性呈现出先升高后降低的双相变化过程。(2)、he染色发现,ih4组、ih8组、ih12组大鼠舌下神经核内神经细胞均表现出不同程度的变性、损伤。随着ih处理时间持续延长,神经细胞数目逐渐减少,体积缩小,部分神经元结构崩解。细胞核皱缩、消失,染色质凝集、边聚,甚至有细胞核的溶解消失等现象。(3)、尼氏染色发现,ih4组、ih8组、ih12组大鼠延髓舌下神经核神经元均出现尼氏体减少、着色变浅。随着ih处理时间的持续延长,胞体肿胀明显,脱失严重,形态出现不规则。胞浆尼氏体数量减少,着色浅淡或空染。细胞核出现固缩、偏移,核仁不清楚。尼氏染色阳性细胞计数逐渐减少,各IH组与对照组比较差异具有统计学意义(34.50±2.45,24.63±2.07,19.88±2.64 VS 45.13±1.86,P<0.001,n=8)。(4)、TUNEL检测发现,IH4组、IH8组、IH12组大鼠舌下神经核内神经细胞均发生细胞凋亡,各IH组凋亡率与对照组比较差异均具有统计学意义(7.26±0.33,10.42±0.84,8.32±0.50 VS 1.30±0.01,P<0.001,n=8)。且随着间断性缺氧处理时间的延长,凋亡率不断增加。在本实验中,间断性缺氧8周时(IH8组)凋亡率达到高峰。(5)、透射电镜观察也证实,各IH组大鼠HN中均存在神经细胞凋亡。结论:IH可引起舌下神经核神经细胞凋亡并影响舌下神经放电活性。