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手机芯片检测技术是手机生产中的重要一环。对大批量手机芯片的检测不仅需要硬件设备的支持,还需要相应的软件平台的支持。然而,中国大陆的手机芯片检测技术比较落后,基本上全部引进欧美技术。2005年美国电气和电子工程师协会(IEEE)发布了新的检测数字设备的标准接口语言。手机芯片检测技术从而翻开了的新的一页。本文描述了一个基于该新发布的文件格式的手机芯片检测系统的设计与实现。该系统是应国内某手机芯片生产厂商要求而开发的一套不仅检测手机芯片合格率而且还可以跟踪模拟显示手机芯片错误内容的系统。该系统的硬件平台由一个CCD激光测微仪,PC主机,显示器,高速探头组成。测微仪通过并行口连接到PC机。该扫描仪中采用了高灵敏度的线阵列CCD作探测器来扫描位于一维移动平台上的手机芯片。CCD采用500mn或450nm波长激光作为激发光源扫描手机芯片FF的内容,并把扫描结果按照STIL的格式写成数据文件输出到PC机中。本文主要介绍基于该硬件平台的软件系统设计和实现。该软件系统主要采用MVC设计模式,数据库中间件技术,基于PostScript的打印技术等相关软件技术,实现了对STIL数据文件的自动解析,芯片错误的模拟显示,及合格率的科学统计。首先,本系统实现了STIL数据文件的自动解析,芯片错误的模拟显示。系统主要包括三个模拟界面:Multiwafer、Wafer和Chip。它们分别用来显示系统读取转换后的三种数据文件:Multiwafer、Wafer和Chip数据文件。其次,本系统实现了对Multiwafer、Wafer和Chip模拟结果的打印。打印分为纸张打印和文件打印。纸张打印直接向打印机输出打印内容;文件打印把打印内容按照PostScript语言写成文件(脚本语言),由专门的解释软件解释。最后,本系统实现了对检测结果的科学统计及存储。该系统使技术分析人员能够精确地检测及分析生产流水线中出现的错误,从而极大地提高了生产效率。试验表明该软件可以作为检测手机芯片的有效工具。