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粲介子D+→K-π+e+ve半轻衰变是研究Kπ系统、测量主导过程D+→(K)*0(892)e+ve衰变的形状因子和共振态参数的理想场所。实验上的精确测量结果对检验标准模型(SM)、测量CKM矩阵元参量和比较格点QCD计算具有重要意义。本文利用BESⅢ上在ψ(3770)能量点获取的2.92 fb-1实验数据，采用D介子双标记(Double Tag)方法，测量了D+→ K-π+e+ve的分支比:B(D+→K-π+e+ve)=(3.71±0.03±0.09)％.其中第一项误差是统计误差，第二项误差为系统误差。对D+→K-π+e+ve的分波分析(PWA)研究表明，该过程中KπS波(非共振态+K*00(1430))和P波(K*0(892))比例分别为(5.88±0.21±0.27)％和(94.10±0.21±0.27)％。K*0(1410)和K*02(1430)信号显著性小于5σ，所占比例小于1％。由此测量这些过程的分支比（或上限）为:B(D+→K-π+e+ve)(K)*0(892)=(3.49±0.03±0.09)％,B（D+→（K-π+）s-wavee+ve)=(0.218±0.008±0.011)％，B(D+→(K)*0(1410)e+ve)≤0.035％@90％ C.L.,B(D+→(K)*2(1410)e+ve）≤0.034％@90％ C.L。 本文利用SPD模型参数化的方法，测量了D+→(K)*0(892)e+ve过程在q2=0处的形状因子参数:rV=V(0)/A1(0)=1.488±0.036±0.033，r2=A2(0)/A1(0)=0.739±0.043±0.043，mA=(2.51±0.17±0.15) GeV/c2，A1(0)=0.567±0.009±0.014.以及K*0(892)的质量、宽度和Blatt-Weisskopf势垒因子rBW等参数:mK*0(892)=(894.3±0.3±0.2) MeV/c2,Γ0K*0(892)=(47.7±0.6±1.7) MeV/c2，rBW=3.0±0.3±0.2(GeV/c)-1。以上测量结果与其他实验做了比较。另外，采用与模型无关的方法测量了(Kπ)S波相位随Kπ不变质量的变化关系，其结果与LASS中的参数化拟合一致。dE/dx是BESⅢ上粒子鉴别的重要部分，dE/dx刻度和模拟的质量直接影响粒子鉴别效率及其误差。本文对dE/dx刻度和模拟过程做了详细研究，刻度和模拟算法的改进大大缩短了刻度时间，提高了dE/dx数据和模拟的一致性。