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电连接器作为各型号装备中的基础机电元件,可实现型号与地面设备以及级间电路的快速连接和分离,在型号的电气和控制系统中数量众多,是传递电能和信号必不可少的接口元件,其可靠性对型号系统寿命影响很大,因此,准确评估电连接器的贮存寿命,对型号定寿延寿工作意义重大。电连接器随型号在贮存期会经历库存、测试、运输、训练和战备值班等状态,在各个状态分别会经受温度、湿度、振动、电流、插拔等因素的影响,在计入整个贮存剖面各因素影响的电连接器贮存寿命加速试验中,需要精确控制插拔、电流等各种应力施加的时间间隔和时长比例,其前提是获得电连接器在库存环境中(单纯考虑温度)的退化模型。现有的混合效应模型已不能满足计入整个贮存剖面应力的加速试验对退化轨迹的精度要求,同时,从电连接器接触对表面的微观形貌和接触对电化学腐蚀的微观机理来看,某些马尔科夫(Markov)过程才是更接近真实的描述,因此有必要对精确描述电连接器在温度应力下性能退化过程的模型进行研究。本文以在型号上广泛使用的Y11P-1419型电连接器为对象,通过对其失效模式和失效机理分析,确定了电连接器接触对表面氧化膜生长和扩散的微观机理。基于该微观机理,建立了基于布朗运动的电连接器接触性能退化模型,以及模型中退化率、扩散系数与温度应力之间的关系,即加速退化方程。最后基于White法和Breusch-Pagan法对从机理层面所建的接触性能退化模型和加速退化方程进行了检验,验证了所建模型的正确性,为后续电连接器贮存寿命评估的加速试验中各应力施加的时间点和时长的精确控制提供了理论依据。本文一共分5章,具体章节安排如下:第1章,本章阐述了课题研究的背景、目的及意义,从性能退化模型、试验数据统计分析和模型的检验方法三个方面入手,分析了国内外相关领域的研究现状及存在的问题,提出了论文的主要研究内容和相关思路。第2章,本章主要分析了电连接器在库存状态下的失效模式和失效机理,确定了导致电连接器接触失效的主要原因是接触对表面氧化膜层的生长;从接触对表面孔隙、接触斑点的大小、分布等膜层生长和扩散的随机性,揭示了接触电阻值呈波动性增长的根本原因。第3章,结合电连接器贮存状态下的失效模式和失效机理分析,基于电连接器接触性能退化量呈波动性增长的微观机理,利用布朗运动描述了电连接器接触性能退化的随机过程,建立了基于维纳过程的电连接器接触性能退化模型;基于中心极限定理和化学反应论,研究了漂移系数和扩散系数与温度应力之间的关系,建立了相应的加速退化方程。第4章,本章给出了电连接器在温度应力作用下的加速退化试验方案,包括各应力水平下的样本量、测试时间间隔、截尾时间等。收集各应力水平下电连接器的接触性能退化数据,利用K-W法进行了各电连接器的同分布检验,并利用最小二乘法和二步极大似然估计法对试验数据进行统计分析,给出了性能退化模型和加速退化方程的参数估计值。第5章,本章提出了电连接器接触性能退化模型和加速退化方程的验证方法。利用4组恒定温度应力下加速退化试验数据,结合图分析法、White检验法和Breusch-Pagan检验法验证了电连接器的性能退化模型;从试验数据的统计检验出发,利用线性回归分析法验证了电连接器的加速退化方程;检验结果表明,该模型能很好的描述电连接器接触性能退化的随机过程和性能退化随温度的变化规律,证明了从失效机理层面建立的模型的正确性。第6章,对论文的研究工作进行总结,并且对仍需进一步研究的内容提出建议。