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通过添加外源镉污染水稻土进行池栽实验,施入不同形态及数量的硫肥(单质硫、石膏),研究水稻不同生育期内,硫素对水稻根表铁锰氧化物胶膜的形成、对水稻吸收镉、以及对土壤中镉的形态分布的影响。结果表明:1.整个水稻生育期内,镉污染土壤溶液Eh范围在-200~100 mV之间;pH在6.9~7.9之间;pe+pH在4~10之间。污染处理与未污染处理间,土壤溶液Eh、pe+pH的差异不明显;受到镉污染后,土壤溶液pH平均值略有升高。2.整个水稻生育期内,无论是否受到重金属镉污染,水稻根表的氧化物胶膜均以Fe膜为主。镉污染水稻根表Fe膜的质量分数达到5000~13000 mg·kg-1,Mn膜的质量分数相对较小,为170~580mg·kg-1。在孕穗期高硫量处理与低硫量处理的铁胶膜质量分数分别为9400 mg·kg-1和8600 mg·kg-1,高硫量处理比低硫量处理可生成更多的铁胶膜;而根表锰胶膜的数量差异主要表现在分蘖期,单质硫和石膏硫处理的锰胶膜质量分数分别为600 mg·kg-1和400 mg·kg-1,达到显著差异水平,单质硫比石膏硫更易促进水稻根表锰胶膜的形成。未污染水稻的根表铁锰胶膜情况与之相同。3.水稻根表的氧化物胶膜对于Fe2+过量吸收有一定阻控作用,对Mn2+作用不显著。4.水稻根表胶膜吸附Cd的质量分数在分蘖期为78.8~131.1 mg·kg-1,孕穗期16.6~21.1mg·kg-1,成熟期3.0~9.2 mg·kg-1。在分蘖期与孕穗期,高硫量处理比低硫量处理的吸附量高,在成熟期反之。采用ACA方法浸提铁锰胶膜内的Cd测定值并不能真实地表明胶膜实际固定Cd的质量分数。5.水稻体内各部位Cd的质量分数表现为根>茎叶>籽粒。一定量的施硫能有效减少水稻各器官中Cd的质量分数。对于根和茎叶,单质硫在成熟期以前效果好于石膏硫;对于籽粒,石膏硫效果更佳。6.一定量的硫肥,能有效阻碍Cd从水稻根部向茎叶与籽粒的转移。对于茎叶,在孕穗期单质硫和石膏硫的Cd转移系数分别为0.13和0.25,差异显著,单质硫能更好地阻碍Cd的转移;对于籽粒,石膏硫的阻碍效果更好。7.根际土壤中Cd的生物有效性低于非根际土。施硫能有效减少水稻非根际及根际土壤中交换态Cd的质量分数及所占总Cd的百分比,使其向着更稳定的其他形态转变,且高硫量的处理比低硫量的效果更显著。不同形态的硫处理,施石膏硫的处理相比单质硫可以更好地降低土壤中Cd的生物有效性。