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基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱是近年来发展起来的一种新型的质谱仪.由于基质辅助激光解吸电离的优异的"软电离"能力和飞行时间质量检测器较宽的质量检测范围,其很快就被应用到合成高分子的分析.该论文的一个目的就是用基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱来分析三类具有特殊应用前景的合成高分子:(1)甲壳型液晶高分子、(2)含有联吡啶的共轭高分子、(3)嵌段型高分子.通过试验得到最适合它们的基质和样品制备方案.并从质谱图中得到了前两种高分子的重复单元和端基的信息.根据质谱图算出了它们的平均分子量.从而成功地建立了分析多种不同类型合成高分子的质谱方法.为研究这几类高分子结构与性能的关系提供了数据.该论文的另外一个目的是研究手性环酯在电子轰击源下的碎裂机理.通过对低分辨电子轰击质谱、低分辨快原子轰击质谱、高分辨电子轰击质谱和质量分析离子动能谱的研究提出了这类化合物在电子轰击下的碎裂机理.