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目前，随着集成电路的复杂度和集成度不断增大，连接芯片的串行总线的数据传输速率也越来越高，有的高达几Gbps。在如此高的速率下，传输线的阻抗如果不符合标准，将会严重影响信号的完整性，进而影响PCB的质量。因此，PCB厂商和设计人员需要高精度的阻抗测试设备，这样在设计和生产过程中就能有效控制传输线的特性阻抗，从而生产出优质的PCB板。本文正是针对以上问题，研究提高PCB特性阻抗测量准确度的方法。由于特性阻抗的频域测量难以满足工业生产的需求，提出了一种基于TDR的特性阻抗的时域测量方法。这种测试方法能准确、直观且充分的显示PCB传输线的信息。然而时域测量方法容易受到时基抖动和微波反射等的影响，因此，论文采用PDF反卷积法有效去除了数据中的时基抖动，并采用IPC-TM-650规程法、众数法选择最佳测量区域，有效去除了微波反射。实验表明，测量数据处理结果十分接近被测件的标定值。 本论文的具体研究内容如下: 首先，介绍了传输线特性阻抗的概念，并详细总结了特性阻抗控制和信号完整性的关系。另外，研究了阻抗的频域测量原理，并对阻抗的时、频域测量方法做了分析和比较。通过分析和比较，选择时域测量方法，研究了特性阻抗的时域测量理论。为了方便理解TDR阻抗测量原理，使用Cadence中的SigXplorer模块进行阻抗仿真并对仿真结果进行分析。另外，详细分析了TDR测量阻抗的误差来源，以便在实验中予以注意以及在数据处理算法中予以消除。 其次，基于Agilent54754A构建特性阻抗测量系统获取实测数据，并对实测数据预处理。在介绍了测量系统的主要实验设备、分析系统校准方法后，选择两种不同的校准方法获取实测数据，通过两种方式显示测量结果，一种是示波器上直接显示，另一种是将实测数据导入MATLAB获取测量电压波形结果。获取实测数据后，对实测数据去除异常值及取平均值，有效的剔除了测量数据中的离群值，便于后续的数据处理。 然后，为了消除采样示波器时基抖动对测量结果的影响，研究了去除时基抖动算法。在详细分析抖动概念及模型后，通过对时基抖动修正算法的分析，选用三阶泰勒近似估计时基抖动的大小，采用PDF反卷积算法去除时基抖动，并编写相应的处理软件来分析实验数据，有效去除了数据中的时基抖动。另外，为了消除采样示波器时基失真对测量结果的影响，研究了去除时基失真算法，通过实验获取了时基失真数据，并去其进行修正，获得时基失真量之后，对被测件的时基进行修正，获得被测件的特性阻抗值，对比发现，被测件特性阻抗值更加接近标称值，有效消除了时基失真对结果的影响。 最后，为了去除微波反射对测量结果的影响，文中分别采用IPC-TM-650规程法和众数法选择最佳测量区域，以去除微波反射的影响，并根据算法编写相应处理软件来分析实验数据。有效去除了测量数据中的微波反射。而且文中对去除时基抖动和去除微波反射这两种算法进行综合研究，并对处理结果进行分析和比较。为了使数据处理结果可视化，基于MATLAB GUI编写算法处理软件来直观显示数据处理结果。