基于STM32高速误码测试仪的设计与实现

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社会的发展带来了信息量的扩张,而作为信息传递的载体也在不断的更新。目前,以光为媒介的传输通信系统已经渐渐取代电传输与通信系统的地位。由于光通信技术具有传输带宽大、传输速率高、信号防外界干扰能力良好等优点,让其成为行业的发展趋势。商用的光模块、有源光缆等设备不断的向高速发展,但是在高速光通信系统中,数据会在传输过后不可避免的出现误码。因此,通过测量高速系统的误码率从而判断其系统可靠性,显得尤为重要。本文针对当前大量化生产的10Gbps光模块的误码测试需求,研发了一种四通道的高速误码测试仪。它重点应用于对当前9.953Gbps至11.318Gbps间,不同协议传输速率的SFP、XFP等光收发模块的误码率检验,适用于该速率间的Ethernet、Fiber Channel、SDH及Infiniband等网络环境。它支持多种伪随机码型信号输出及10位误码数显示,四个通道可同时对4个不同的10Gbps光模块测试,也能对本身具有四通道的4×10Gbps的有源光缆(AOC)进行检测。它同时兼具人机触控界面,能为大量化的光模块误码测试提供方便。本文完成的主要工作如下:1、通过对高速误码测试仪工作原理以及大量化测试功能需求的分析,提出误码测试系统的实现方法,通过对比选出最优化的设计方案,并分析其性能指标要求。2、详细阐述了基于STM32控制,以VSC8248和GN2010E芯片为主的四通道高速误码测试仪的设计方案。围绕主要芯片对仪器的硬件电路进行了各功能模块和信号优化模块的原理图设计,并在高速信号完整性的相关理论支持下完成了方案的高速PCB设计。3、对高速误码测试仪进行软件系统的开发;在实现误码主体的测试功能后,完成以触控屏为基础的人机交互界面的控制设计。4、对高速误码测试仪的发送端、接收端以及人机交互界面等进行测试。发送端信号峰峰值电平大约为800mv,其上升时间低于40ps,信号总抖动TJ低于0.28UI,能符合10G Ethernet、SDH等协议;接收端可以较为准确的对信号实现误码测量;通过与泰克误码分析仪的测试结果进行比较,并对实际的光模块器件进行测试操作,验证了误码系统的可靠性,满足设计预定要求。
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