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自从八十年代末期以来,功率谱密度函数在光学表面面形评价中得到了越来越广泛的重视和应用.由于其可以直观地综合描述表面面形分布的垂直量和水平量,所以研究人员也就可以从功率谱的角度来研究光学检测系统对测量结果的通带限制和频率响应.该论文正是基于这种思想,对功率谱密度函数在光学检测系统中的传递性质进行了较全面的分析.