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在各种实际工程中的温度测量领域，热敏电阻有着非常广泛的应用，但目前应用局限于低温度，对热敏电阻高温特性进行准确测试的系统对于高温段热敏电阻的开发尤其重要。本文对热敏电阻从室温到高温段（室温～1000℃）测试过程所要求的性能出发，对其阻温特性与老化特性进行测试，即在一定控温精度下，能够对热敏电阻进行高精度的测试，并且实时显示测试数据并记录。 整个系统包括底层硬件和上层控制软件，通过温度控制模块采用成熟的模糊PID算法控制炉温升温到制定的温度点，嵌入式系统控制多通道样片测试选择，然后通过阻值测试模块测量特定温度下热敏电阻阻值；由于在高温高压情况下，测试过程会受的强大的电磁干扰影响以及温度效应，从而影响数据稳定；本文通过对测试过程中测试数据的分析，对炉具的干扰进行了详细的理论分析，并提出了合理的干扰模型，在测量过程中通过合理设计有效规避了干扰。 上位机软件使用labVIEW软件进行编程设计，图形化的设计语言使对测试结果的处理和显示更加直观，将要实现的功能进行了模块化设计，使其有更好的继承性，便于功能改进与完善，本文给出了软件设计流程图、部分利用G语言设计的上位机源程序以及嵌入式C程序。 系统的实现需要大量的实验验证其稳定性与可重复性，本文在安装调试后做了大量的实验进行测试系统的稳定性，系统的控温误差能够控制在2℃以内，能够很好的测试描绘出NTC电阻的阻温特性曲线以及在某高温固定温度点的长时间的老化温度曲线，达到了预期的测试指标。