新型铁电薄膜的椭偏光谱研究

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该论文系统介绍了椭圆偏振光谱的基本原理,将模拟退火方法这一新颖的优化过程引入到椭圆偏振光谱的分析中.用椭偏光谱法研究了几种新型铁电材料的光学性质,并结合X射线衍射实验(XRD)、原子力显微镜分析(AFM)、扫描电子显微镜(SEM)等分析测试手段对其结构进行分析,并讨论结构变化对光学性质的影响.
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