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随着半导体激光器广泛应用于光纤通信、激光唱盘、信息存储、医疗、泵浦固体激光器等领域，其可靠性测试研究已成为当前的热点问题。如何延长半导体激光器的使用寿命，提高半导体激光器的可靠性，增大半导体激光器的输出功率一直是人们在半导体激光器研究中不懈的努力和追求的目标。
本论文针对实验室大功率激光器的研究及生产情况，主要从以下几方面展开了可靠性测试的研究工作。主要研究内容及成果包括：
1.论述了可靠性测试中常用的一些基本概念及半导体激光器的主要退化机理，总结了半导体激光器可靠性测试的方法。
2.对大功率半导体激光器的光电特性及热特性进行了研究，并给出了激光器各项性能参数与光电特性曲线的对应关系。
3.独立设计并完成了半导体激光器可靠性评估系统。该系统可对半导体激光器进行高温恒流老化测试，加快可靠性分析进程，预测器件寿命。该系统以单片机为主控部件，不仅可以实现驱动电流连续可调(0～3A)，还可实现老化温度连续可调(室温～150℃)。同时，该系统对电流控制精度可达毫安级，温度可达±0.5℃。论文中详细介绍了该系统的硬件及软件设计方法，对设计过程中遇到的各种问题进行了分析并提出了解决方案。
4.对镀膜与未镀膜大功率808nm半导体激光器和980nm半导体激光器分别进行了对比测试及分析，验证了镀膜对激光器性能的改善。同时，还对这批器件进行了老化实验，通过对老化实验前后激光器各项性能参数的对比分析同样验证了镀膜可有效提高器件性能，延长器件寿命。最后，提出了几点提高可靠性的方法。