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本文通过对数模混合信号电路中最常用的ADC电路的故障模型、测试算法和内建自测试结构研究，提出切实可行的ADC电路可测性设计方案。实验结果表明，该ADC电路的可测性设计方案具有测试时间短、测试精度高、内建自测试结构占用芯片面积小和易于片上集成等优点。
首先对数模混合集成电路测试各种常用的方法，故障模型，测试算法以及测试的相关标准做了简要的说明，然后分析模数转换器(ADC)的故障模型，常用的测试算法，可测性设计方案以及内建自测试结构，随后提出ADC测试算法和内建自测试方案；而后，进行了实验并得出结论；最后对论文的总结和对将来研究工作的展望。